ftpadv主要用于测量薄膜厚度和光学折射率的测量。
主要特性:
1，包含厂家预设的和用户自定义的广泛的应用数据库，可直接使用
2，广泛的材料数据库，来源于sentech光谱椭偏仪分析数据
3，可测量半导体上的电介质膜，半导体上的半导体薄膜，硅上的聚合物膜，透明基底上的薄膜和金属基底上的薄膜
更多特性:
1，测量透明膜和弱吸收膜的厚度和折射率
2，菜单驱动软件，操作简易
3，全光谱测量时间小于 300 ms
4，32位软件，基于winnt, win2000, winxp等操作系统
5，可进行连续测量
6，高精度和高重复性测量，膜厚范围从50nm至20000nm
7，可预先定义应用程序，操作简易
8，多层膜中的指定膜层能够被测量?
9，统计分析，测量数据和对样品的操作都在protocol中显示，数据 能够被保存和打印
mapping选项，包括计算机控制扫描样品台和分析软件
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